介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)定儀有哪些常見故障
更新時(shí)間：2025-07-28 點(diǎn)擊次數(shù)：26
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)定儀（介質(zhì)損耗測(cè)試儀）在使用中可能遇到多種故障，這些故障通常與接觸不良、環(huán)境干擾、線路老化、操作模式選擇不當(dāng)以及儀器本身問題相關(guān)，以下是常見故障及其分析：
- 搭鉤接觸不良：
- 現(xiàn)象：使用搭鉤連接測(cè)試產(chǎn)品時(shí)，掛鉤未與測(cè)試產(chǎn)品良好接觸，導(dǎo)致接觸點(diǎn)放電，數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。
- 原因：測(cè)試產(chǎn)品表面氧化層過厚或風(fēng)吹導(dǎo)致管道擺動(dòng)，造成接觸不良。
- 處理：清潔掛鉤和測(cè)試產(chǎn)品接觸面，確保良好接觸；固定測(cè)試產(chǎn)品，減少擺動(dòng)。
- 接地接觸不良：
- 現(xiàn)象：儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。
- 原因：接地點(diǎn)存在油漆、鐵銹等，導(dǎo)致接地電阻不為零。
- 處理：刮除接地點(diǎn)油漆和鐵銹，確保零電阻接地。
- 直接測(cè)量CVT或電磁PT時(shí)的負(fù)介損問題：
- 現(xiàn)象：直接測(cè)量CVT下節(jié)耦合電容或電磁PT時(shí)，出現(xiàn)負(fù)介損。
- 原因：直接測(cè)量CVT下節(jié)耦合電容會(huì)產(chǎn)生負(fù)介損，應(yīng)改用自激法；用端部屏蔽法測(cè)量電磁PT時(shí)，受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”，產(chǎn)生負(fù)介損。
- 處理：改用自激法測(cè)量CVT；吹干電磁PT的陶瓷套管和接線端子盤，或改用常規(guī)法或末端加壓法測(cè)量。
- 空氣濕度影響：
- 現(xiàn)象：介電損耗測(cè)量值異常增大（或減小甚至為負(fù)），且不穩(wěn)定。
- 原因：空氣濕度大使測(cè)量值異常。
- 處理：在必要時(shí)添加屏蔽環(huán)（但需注意，此方法可能改變樣品電場(chǎng)分布，存在爭(zhēng)議，可參考相關(guān)規(guī)定）。
- 電源頻率不穩(wěn)定：
- 現(xiàn)象：發(fā)電機(jī)供電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定，影響測(cè)量結(jié)果。
- 處理：采用定頻50Hz模式工作。
- 測(cè)試線路問題：
- 現(xiàn)象：測(cè)試線路隱性開路、芯線和屏蔽短路或插頭接觸不良，導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確。
- 原因：長(zhǎng)期使用導(dǎo)致線路老化或損壞。
- 處理：經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線路，使用全屏蔽插頭連接測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容試品，以消除附加雜散電容影響；自激法測(cè)量CVT時(shí)，將非專用高壓線路吊起懸掛，避免對(duì)地附加雜散電容和介損引起測(cè)量誤差。
- 工作模式選擇錯(cuò)誤：
- 現(xiàn)象：接線后未選擇正確的測(cè)量方式（正、負(fù)、CVT），導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確。
- 原因：在干擾環(huán)境下未選擇變頻抗干擾模式。
- 處理：根據(jù)測(cè)試環(huán)境和試品類型選擇正確的測(cè)量模式。
- 儀器故障：
- 現(xiàn)象：儀器無(wú)顯示、測(cè)量結(jié)果異常等。
- 可能原因：電源連接不良、電源適配器故障、顯示模塊故障、電路元件損壞（如電容傳感器老化、電阻或電容故障）等。
- 處理：
- 檢查電源連接部分，確保電源線牢固插好，電源開關(guān)處于打開狀態(tài)，電源適配器正常工作。
- 若電源部分沒有問題，可能是儀器內(nèi)部故障，需聯(lián)系專業(yè)維修人員進(jìn)行檢修。
- 使用萬(wàn)用表測(cè)量測(cè)試線是否開路，芯線和屏蔽是否短路；檢查輸入電源220V是否過高或過低；檢查接地是否良好。
- 用正、反接線測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介電損耗的電容器，若結(jié)果正確，可判斷儀器無(wú)故障；否則，儀器可能有故障。
- 拔掉所有測(cè)試線，執(zhí)行測(cè)試和升壓，若測(cè)試不正常，儀器可能有故障。開始CVT測(cè)量后測(cè)量低壓輸出時(shí)，應(yīng)有2-5V電壓，否則儀器將失效。
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